2024年同濟(jì)大學(xué)非全日制研究生招生考試《電子學(xué)基礎(chǔ)》考試大綱
一、考試要求：
要求考生全面、系統(tǒng)和準(zhǔn)確地掌握基本電子電路、數(shù)字邏輯電路的基礎(chǔ)理論、分析與設(shè)計(jì)方法;重點(diǎn)考察考生對(duì)組合邏輯電路和時(shí)序邏輯電路的分析和設(shè)計(jì)能力、以及綜合運(yùn)用所學(xué)電子學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)解決工程問(wèn)題的能力，并有一定的數(shù)字電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)、仿真分析、實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證的能力。
二、考試范圍：
1、 數(shù)制與碼制、邏輯代數(shù)基礎(chǔ)
常用的數(shù)制、不同數(shù)制之間的轉(zhuǎn)換，二進(jìn)制算術(shù)運(yùn)算，幾種常用的編碼;邏輯代數(shù)基本運(yùn)算、基本公式和基本定律，邏輯函數(shù)及其表示方法，邏輯函數(shù)卡諾圖化簡(jiǎn)方法， 具有無(wú)關(guān)項(xiàng)的邏輯函數(shù)化簡(jiǎn)。
2、 基礎(chǔ)電子電路
線性電阻電路分析方法與電路定理，NMOS、PMOS、CMOS電路， TTL電路與CMOS電路接口。
3、 組合邏輯電路、時(shí)序邏輯電路及半導(dǎo)體存儲(chǔ)電路分析與設(shè)計(jì)
組合邏輯電路的分析與設(shè)計(jì)方法，常用邏輯電路及其競(jìng)爭(zhēng)與冒險(xiǎn)現(xiàn)象，觸發(fā)器邏輯功能及其描述方法，時(shí)序邏輯電路分析方法與設(shè)計(jì)方法，寄存器、計(jì)數(shù)器分析與設(shè)計(jì)。只讀存儲(chǔ)器(ROM)和隨機(jī)存儲(chǔ)器(RAM)構(gòu)成和工作原理，存儲(chǔ)器容量擴(kuò)展設(shè)計(jì)方法及其工程應(yīng)用。
4、 可編程邏輯器件
可編程陣列邏輯(PAL)、通用邏輯陣列(GAL)基本電路結(jié)構(gòu)，復(fù)雜的可編程器件(CPLD)總體結(jié)構(gòu)，現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)基本結(jié)構(gòu);能夠應(yīng)用硬件描述語(yǔ)言開(kāi)展基礎(chǔ)數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)(如組合邏輯、時(shí)序邏輯、有限狀態(tài)機(jī)等)。
5、數(shù)-模和模-數(shù)轉(zhuǎn)換電路分析與應(yīng)用
掌握典型的數(shù)-模轉(zhuǎn)換器(DAC)與模-數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)電路結(jié)構(gòu)、工作原理及其性能分析。
三、考試題型：
主要包括：簡(jiǎn)答題、判斷題、分析題、設(shè)計(jì)題。
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